Komponenta

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Godina proizvodnje: 2025, Stanje: novo, Rendgenski sustav za inspekciju srednjih pakiranja, vreća. Prikladno za detekciju stranih tijela od metala, stakla, kamena, plastike itd. u prehrambenim i neprehrambenim artiklima. - Tehnički podaci: Širina pokretne trake: 410 mm; Preciznost detekcije: Pb od Ø 0,2 mm, Fe od Ø 0,28 mm, SUS od Ø 0,28 mm, nemetalni poput kamena, stakla, od Ø 1,2 mm; Snaga X-zraka: 80 kVp, 1,25 mA; Razlučivost detektora: 0,4 mm; Emisije X-zraka: < 1usv/h; Visina pokretne trake: 850 ± 30 mm; Brzina pokretne trake (ovisno o proizvodu): 10 – 100 m/min; Korisničko sučelje: 15" zaslon osjetljiv na dodir; Softver: intellisens®X-ray; Radna temperatura: 5 – 35 °C; Sustav za izbacivanje: opcijski dostupan prema zahtjevima; Napajanje: 220VAC, 50/60Hz; Dimenzije sustava: D900xŠ920xV1825 mm; Težina: 350 kg. Kjdpfxev Nm Ine Aa Hefa Imajte na umu da su naše nove cijene često niže od uobičajenih cijena rabljenih. Samo pitajte i recite nam svoj zadatak pakiranja. - Obično je 30-50 različitih novih strojeva dostupno odmah sa zaliha. Osim toga, imamo vrlo kratke rokove isporuke od približno 3 tjedna za strojeve koji su proizvedeni prema specifikacijama kupaca. - Svi strojevi su dostupni s punim jamstvom.

Stanje: Neispravan nositelj rezervnih dijelova (rabljen), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 analizator rendgenske fluorescencije – za dijelove / neispravan Opis artikla: Na prodaju je korišteni analizator rendgenske fluorescencije tipa Oxford Instruments X-Strata 960. Uređaj dolazi iz laboratorijske demontaže i prodaje se isključivo za dijelove ili u svrhu popravka. Funkcionalna ispitivanja nisu provedena – stoga se uređaj prodaje kao neispravan. Tehnički podaci – Oxford Instruments X-Strata 960 (bez jamstva točnosti) Značajka Opis Model: X-Strata 960 Proizvođač: Oxford Instruments Metoda analize: rendgenska fluorescencija (XRF) Područja primjene: mjerenje debljine slojeva, analiza materijala, ispitivanje plemenitih metala Geometrija mjerenja: odozgo ili odozdo (ovisno o konfiguraciji) Izvor zračenja: rendgenska cijev (npr. rodijeva anoda), 50–100 W snage Detektor: proporcionalni brojač ili silicij drift detektor (SDD), ovisno o izvedbi Mjerno područje debljine sloja: cca 0,005 – 50 µm (ovisno o materijalu) Veličina točke: cca 15 μm – 1 mm (ovisno o kolimatoru) Z-os: motorno pomična, do cca 230 mm visine mjerenja Mjerni prostor (Š × D × V): cca 580 × 510 × 230 mm Stol za uzorke: ručno ili motorno upravljan (200 × 200 mm ili veći, ovisno o opremi) Fokus sistem: optički / laserski fokus, djelomično automatski Operativni sustav: integrirano industrijsko računalo sa softverom na bazi Windowsa Napajanje: 220–240 V / 50–60 Hz / cca 500–800 W Težina uređaja: cca 150–200 kg (ovisno o izvedbi) Kodpfxehaapfj Aa Hefa Stanje: korišteno / neispravno / za rezervne dijelove Obim isporuke: prema slikama – bez dodatne opreme ili softvera Važne napomene: Prodaja isključivo kao neispravan uređaj, bez jamstva funkcionalnosti. Artikl se prodaje kao izvor rezervnih dijelova ili za hobiste. Ne postoji jamstvo za funkciju, potpunost ili tehničke parametre. Komercijalna prodaja uz isključenje jamstva za materijalne nedostatke, sukladno § 447 njemačkog BGB (prodaja na daljinu). Opseg isporuke: Oxford Instruments X-Strata 960 Sve komponente vidljive na slikama Ostali dijelovi, pribor ili dokumentacija nisu uključeni, osim ako nije izričito navedeno. Dostava i preuzimanje: Preuzimanje moguće i preporučeno u Borkenu Dostava po dogovoru moguća. (Zadržavamo pravo na promjene i pogreške u tehničkim podacima i navodima!) Na dodatna pitanja rado ćemo odgovoriti telefonom.

Godina proizvodnje: 2016, Stanje: vrlo dobro (rabljeno), Automatska rendgenska inspekcija Za inspekciju BGA, QFN, THT, LED, LGA i drugih lemnih spojeva, vidljivih ili skrivenih. Ostale značajke: Uključujući offline stanicu i stanicu za popravak OS: Windows 7 Ultrabrzi CCD detektori linijskog skeniranja Područje inspekcije: 450 mm - 400 mm Snimanje slike: 2D, 2.5D, 3D (slike slojeva s planarnim CT-om) Kfsdswpuadspfx Aa Hja Dimenzije PCB-a: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI rezolucija: 6 - 30 µm / px AOI: Vidno polje kamere: 42 mm x 42 mm Rezolucija: 21 µm Visina inspekcije: -3 do 7,5 mm Optika: telecentrična Transportna visina: 950 mm +/- 25 mm Sučelje: SMEMA Podešavanje širine: automatsko

Godina proizvodnje: 2016, Stanje: spreman za upotrebu (rabljeno), Dostupan je novi Anritsu sustav rendgenske inspekcije. Snaga rendgena: 100 W, maksimalna širina detekcije: 120 mm, brzina detekcije od 2 kg do 5 kg: 10 m-60 m/min, brzina detekcije od 5 kg do 10 kg: 10 m-40 m/min, težina stroja: cca kg, radni sati: manje od 50h. Stroj ne pokazuje istrošenost pokretne trake ili zavjesa za zaštitu od zračenja. Dokumentacija dostupna. Moguć je pregled na licu mjesta. Kfsdpfsvzr Auox Aa Hsa

Stanje: rabljeno, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD rendgenski difraktometar (XRD) Izvod iz servisnog izvještaja: Uređaj: PANalytical X’Pert PRO MPD Datum izrade: 07.07.2021 Obavljeni radovi: - Ponovno postavljanje i puštanje sustava u rad - Priključivanje vanjskih opskrbnih vodova - Faza zagrijavanja - Potpuna justacija goniometra i drugih komponenti - Provedeno održavanje uključujući zamjenu neispravnih dijelova Ugrađeni rezervni dijelovi: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD Ventilator za X-Celerator jedinicu Filter, voda Motor PW3050 *(Uređaj nije testiran kod nas u kući)* X’Pert PRO MPD je izuzetno svestran i snažan rendgenski difraktometar (XRD) za strukturnu karakterizaciju kristalnih materijala. Savršen za čistu znanost kao i za rutinske primjene u industriji i na sveučilištima. Zahvaljujući modularnom dizajnu, brzoj detekciji, te upravljanju temperaturom i atmosferom, prikladan je i za rutinske analize i za složene in-situ eksperimente. Ključne značajke: - Moguće različite mjerne geometrije: • Refleksija u Bragg-Brentano (θ–2θ) modu • Transmisijska geometrija za praškaste uzorke u kapilarama • Opcijski i SAXS (raspršenje X-zraka pod malim kutem) za nanostrukture - Izvori zračenja i detektori: • Najčešće bakrena anoda (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) Kedpfjwycatex Aa Hefa • X’Celerator detektor (1D, ultrabrzi) za paralelno prikupljanje podataka - Modularni sustav s PreFIX tehnologijom: • Brza zamjena optike i faznih pultova bez nove kalibracije - In-situ mjerenja na visokim temperaturama: • Izvediva mjerenja do cca 1200°C - Kontrolirana atmosfera: zrak, dušik, kisik (ograničeno reducirajuće okruženje) Tipične primjene: - Analiza faza i kvantitativna Rietveld analiza - Određivanje veličine kristalita, mikrodeformacija, unutarnjih naprezanja - In-situ proučavanje faznih prijelaza, oksidacije, kristalizacije itd. - SAXS mjerenja za analizu nanočestica, poroznih struktura - Širok raspon uzoraka: prašci, tanki slojevi, keramika, farmaceutski proizvodi, katalizatori itd. Tehničke karakteristike (tipične): Svojstvo i specifikacija - Kutni raspon (2θ): cca 0,5° do 150° - Korak do 0,002° ili finije - Goniometar: vertikalni, 0–0, radijus cca 240 mm - Temperaturni raspon: od sobne temperature do cca 1200°C - Atmosfera: zrak, N₂, O₂ (ograničeno reducirajuće) - Detektori: X’Celerator (1D), proporcionalni brojači Primjena & zastupljenost: X’Pert PRO MPD koristi se širom svijeta, npr. na: - Sveučilištima (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien) - Znanstvenim institutima (Max-Planck, ICN2, IS2M) - Industrija (razvoj materijala, farmaceutska, kemijska) Stanje: rabljeno / used Isporuka: (vidi sliku) (Zadržavamo pravo izmjene i pogreške u tehničkim podacima!) Za dodatna pitanja slobodno nas kontaktirajte telefonom.

Stanje: dobar (rabljeno), Helmut Fischer Fischerscope mjerenje debljine slojeva rendgenskom fluorescencijom XDL-XYmZ Kfedpfxjw Hbkdo Aa Hja