Mjeriteljski sustav

Leica EM TXP

EM TXP je jedinstveni uređaj razvijen za preciznu pripremu širokog spektra materijala i materijalnih spojeva s lokalnim, izuzetno malim nedostacima. Posebno je namijenjen za piljenje, glodanje, brušenje i poliranje zahtjevnih, malih i nezgodnih uzoraka, gdje se radni proces promatra uz pomoć stereomikroskopa, te se završno ispitivanje u pretražnom elektronskom mikroskopu ili svjetlosnom mikroskopu može izvršiti bez prekida pojedinih radnih koraka.
EM TXP također omogućuje izvrsnu prethodnu pripremu materijala na kojima je predviđeno izvođenje nagibnog reza ionskim polirnim uređajem.

isporučuje se s dodatnom opremom:
1 kom Stereomikroskop M80 komplet
1 kom Unakrsna ploča za M80, 12 mm
1 kom Pokretni adapter za objektiv za M80
1 kom Prilagodnik za podešavanje kuta
Fodpfoytrwaox Acuofw
1 kom Dijamantna pila
1 kom Dijamantna pila
1 kom Specijalni glodač s Ø 6 mm dijamantnim reznim dijelom
1 kom Specijalni glodač s Ø 12 mm dijamantnim reznim dijelom
1 kom Specijalni glodač s Ø 8 mm WC-rezačem
1 kom Specijalni glodač s Ø 12 mm WC-rezačem
5 kom Arbor
3 kom Nosač za lapping foliju
1 kom Lapping folija 15µm, SiC, Ø 30 mm
1 kom Lapping folija 9µm, SiC, Ø 30 mm
1 kom Lapping folija 5µm, SiC, Ø 30 mm
3 kom Nosač za lapping foliju
1 kom Lapping folija 9µm, dijamant (tip U)
1 kom Lapping folija 2µm, dijamant (tip U)
1 kom Lapping folija 0,5µm, dijamant (tip U)
1 kom Lapping folija 0,1µm, dijamant (tip LA)
3 kom Nosač za lapping foliju
1 kom Lapping folija 9µm, aluminijev oksid
1 kom Lapping folija 3µm, aluminijev oksid
1 kom Lapping folija 1µm, aluminijev oksid
1 kom Lapping folija 0,3µm, aluminijev oksid
1 kom Neoprensko platno za završno poliranje (8 kom)
2 kom Kutija za nosače i folije
1 kom Stezaljka za ravne uzorke 0-4 mm
1 kom Stezaljka za ravne preparate 3-8 mm
1 kom TXP SEM STUB držač
1 kom Univerzalni držač uzoraka

Oglas je automatski preveden. Moguće su pogreške u prijevodu.